HCF40147BEY 查看數據表（PDF） - STMicroelectronics
零件编号
产品描述 (功能)
生产厂家
HCF40147BEY Datasheet PDF : 12 Pages
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TEST CIRCUITS
Quiescent Device Current.
Noise Immunity.
HCC/HCF40147B
Input Leakage Current.
Dynamic Power DIssipation Test Circuit
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